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第71回診療放射線技師国家試験を解説#PM76~80

午後 問76

図の回路で、スイッチSを閉じてから4.6ms後の回路電流 I が1mAであった。
コンデンサの静電容量C[μF]はどれか。
ただし、loge10=2.3 とする。

  1. 0.1
  2. 0.2
  3. 0.4
  4. 1
  5. 2

解説

4.6 × 10-3 / (2.3 × 103) = 2 × 10-6[F]

答え 5

午後 問77

半導体で誤っているのはどれか。

  1. 絶対零度ではキャリアは存在しない。
  2. 真性半導体では自由電子と正孔の数は等しい。
  3. pn接合が生成されると電位障壁が形成される。
  4. 真性半導体に微量のヒ素を混入するとp形半導体となる。
  5. n形半導体のFermi〈フェルミ〉準位は禁制帯中の伝導帯に近い位置となる。

解説

p形半導体真性半導体にBGaIn、など3価の元素の不純物をごくわずか加えた半導体

n形半導体真性半導体にPAsSb、など5価の元素の不純物をごくわずか加えた半導体

答え 4

午後 問78

図Aの回路に図Bの電圧 viを入力するとき、出力電圧 voはどれか。

解説

図Aの回路が微分回路であることがわかれば、入力波形を時間微分した波形を選ぶだけの問題

答え 1

午後 問79

光子線の線量計測で誤っているのはどれか。

  1. 吸収線量は電子平衡状態で測定する。
  2. 電子平衡状態では吸収線量と衝突カーマは等しい。
  3. 吸収線量には二次電子から発生する制動放射線も寄与する。
  4. 電子平衡状態では物質の吸収線量は質量エネルギー吸収係数に比例する。
  5. カーマには荷電粒子の初期運動エネルギーに制動放射線として放出されるエネルギーが含まれる。

解説

荷電粒子の初期運動エネルギーから制動放射線を除いた成分を衝突カーマ(吸収線量)と呼ぶ

答え 3

午後 問80

サーベイメータを用いた放射性同位元素による表面汚染の直接測定法について、正しいのはどれか。2つ選べ

  1. あらかじめ自然計数率を求めておく。
  2. 測定器を測定面に接触させて計測する。
  3. 汚染が発見された場合、その場所で測定器を保持して測定する。
  4. 正確な測定を必要とする場合、時定数に等しい待ち時間をおいて測定を行う。
  5. 表面汚染密度は自然計数率を引いた計数率に、機器効率、線源効率および有効窓面積を乗じたものである。

解説

測定時間は時定数の3倍以上の時間をおいて測定する

答え 1,3

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